画像センシング展2018(パシフィコ横浜 6月13日~6月15日)に出展します

6月13日(水)~6月8日(金)のパシフィコ横浜で開催される「画像センシング展2018」に出展します。

テクニカルの展示ブース:
Dホール ブース番号80

「画像センシング展2018」とは

国内外の画像処理・センシング技術が一堂に会する展示会「画像センシング展」は、今回で33回目を迎え、世界に誇る日本の精密加工技術を支える測定をテーマにした「精密測定展」、第24回画像センシングシンポジウム(SSII)との同時開催をいたします。

FAやマシンビジョンに留まらず、私たちの日常における安全性・快適性・効率性の向上に寄与する、画像処理・センシング技術による新しい可能性をご提案する「QoL(Quality of Life)ゾーン」、総合的なシステム構 築をご紹介する「システムインテグレーターゾーン」や、この数年で圧倒的な関心を集めている「ディープラーニング」をはじめ、「セキュリティ」、「メディカル」、「産学共同」の分野で躍進する出展社が集まる特別コーナーを設けます。 (主催者ホームページからの抜粋)

テクニカルの展示内容

同時多面撮像光学素子「クロビット」

外観検査装置やレーザーマーキング装置に使用することで、装置の省スペース化やタクトタイムの短縮にお役立ていただいております。IC、線材、ウエハ、基板、半田ボール、コネクタ、フープ材などの多面を1台の検査用カメラで検査することが出来ます。

微小光学部品

当社では光通信用の微小プリズムやレーザー読み取り装置(スキャナ)のガルバノミラーなど様々な微小光学部品の製作を行っています。

超高精度平面度基準原器

産業技術総合研究所との共同研究を基に合成石英を使用した超高精度平面基準原器の研磨加工に取り組んでおります。Φ100mmの90%でλ/100平面基準原器を製造し、測定保証をすることができるようになりました。現在、より大型かつ高精度な平面基準原器の制作を目指しておりΦ150mmの試作品を展示します。

表面品質比較判断プレート

外観検査での比較検査限度見本です。本来は社内向けとして独自に製作したものですが、お客様からの多数のご要望に応えて販売を開始いたしました。実際に外観検査を行っている社内の現場の声を活かし、外観比較検査をよりしやすく改良を加えております。

他にもプリズムや高精度平面基板の各種サンプルを展示いたします。


皆様のご来場心よりお待ちしております。