電子機器トータルソリューション展2018(東京ビックサイト 6月6日~8日)に出展します

6月6日(水)~6月8日(金)に東京ビックサイトで開催される「電子機器トータルソリューション展2018」に出展します。

テクニカルの展示ブース:
ホール8 ブース番号8D-15 「マイクロエレクトロニクスショー」

「電子機器トータルソリューション展2018」とは

あらゆる電子・情報通信・制御機器に使用される電子回路・実装技術や将来に渡り広く使用・普及されるラージエレクトロニクス(プリンテッドエレクトロニクス、ストレッチャブルエレクトロニクス等)の設計から製造、信頼性確保、流通に至る製品展示により技術情報の提供・提案をはかり、併せて電子回路業界及び関連業界全体の発展に寄与することを目的に開催されます。(主催者ホームページからの抜粋)

テクニカルの展示内容

同時多面撮像光学素子「クロビット」

外観検査装置やレーザーマーキング装置に使用することで、装置の省スペース化やタクトタイムの短縮にお役立ていただいております。IC、線材、ウエハ、基板、半田ボール、コネクタ、フープ材などの多面を1台の検査用カメラで検査することが出来ます。

微小光学部品

当社では光通信用の微小プリズムやレーザー読み取り装置(スキャナ)のガルバノミラーなど様々な微小光学部品の製作を行っています。

超高精度平面度基準原器

産業技術総合研究所との共同研究を基に合成石英を使用した超高精度平面基準原器の研磨加工に取り組んでおります。Φ100mmの90%でλ/100平面基準原器を製造し、測定保証をすることができるようになりました。現在、より大型かつ高精度な平面基準原器の制作を目指しておりΦ150mmの試作品を展示します。

表面品質比較判断プレート

外観検査での比較検査限度見本です。本来は社内向けとして独自に製作したものですが、お客様からの多数のご要望に応えて販売を開始いたしました。実際に外観検査を行っている社内の現場の声を活かし、外観比較検査をよりしやすく改良を加えております。

他にもプリズムや高精度平面基板の各種サンプルを展示いたします。


皆様のご来場心よりお待ちしております。